О дивный детский мир

В 1961 году в Государственный музей Великой Октябрьской социалистической революции (название нашего музея до 1991 года) поступил от Н.Е. Буренина архив певицы Александры Валерьяновны Панаевой – Карцовой, которая была не только певицей, но и талантливым педагогом. Среди ее учеников - С. П. Дягилев, Великая княгиня Елизавета Федоровна, тенор В. Сарадзишвили (Саразини) и многие другие.

В этом архиве находится переписка матери певицы, Софьи Михайловны Панаевой (урождённой Мельгуновой), со своей матерью – Анной Александровной Мельгуновой. Софья Михайловна воспитывалась в Екатерининском институте благородных девиц (Петербургское училище ордена Святой Екатерины), располагавшемся в здании, построенном Дж. Кваренги, на набережной Фонтанки, 36. Сегодня здесь размещается Российская Национальная библиотека.

Архив, хранящийся в нашем музее, дает прекрасный материал не только для изучения быта и духовных запросов представителей многих известных дворянских родов России – Панаевых, Мельгуновых, Квашниных – Самариных, но позволяет окунуться в культурную жизнь Российской Империи II половины XIX века. Письма Софьи Михайловны отражают многие стороны воспитательного процесса, направленного на формирование личности дворянской девушки.

Музей политической истории России предоставил письма Государственному музею истории Санкт-Петербурга для выставки "О дивный детский мир".  Кроме писем, на выставке представлены портреты из альбома одной из воспитанниц Смольного института благородных девиц. Альбом поступил в музейное собрание в 2014 году.


14 ноября 2019 – 11 мая 2020

Государственный музей истории Санкт-Петербурга, Петропавловская крепость, выставочные залы Инженерного дома



Адрес:

Санкт-Петербург, ул. Куйбышева 2-4

Телефоны:

(812) 600-20-00, (812) 233-70-52,

Разработка сайта:

© 2004-2024  Государственный музей политической истории России

Мы используем cookie

Во время посещения сайта ГОСУДАРСТВЕННОГО МУЗЕЯ ПОЛИТИЧЕСКОЙ ИСТОРИИ РОССИИ Вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ.   Подробнее

Понятно